อารมณ์เสียของเหตุการณ์เดียว

ชุดข้อมูลเหตุการณ์เดียว (SEUs) เกิดจากการใช้รังสีก่อไอออนในองค์ประกอบอุปกรณ์จัดเก็บข้อมูล เช่น เซลล์หน่วยความจําการกําหนดค่า หน่วยความจําผู้ใช้ และการลงทะเบียน ในการใช้งานในเชิงพื้นที่ แหล่งที่มาของรังสีก่อไอออนที่สําคัญเป็นอนุภาคของอัลฟ่าที่ปล่อยออกมาจากสิ่งเจือปนรังสีในวัสดุ นิวตรอนพลังงานสูงที่เกิดจากการปฏิสัมพันธ์ของรังสีคอสมิกกับบรรยากาศและนิวตรอนความร้อนของโลกซึ่งส่วนใหญ่เป็นนิวตรอนพลังงานสูงที่ผลิตในอุปกรณ์ที่มนุษย์สร้างขึ้น การศึกษาดําเนินการในช่วง 20 ปีที่ผ่านมานําไปสู่วัสดุบรรจุภัณฑ์ที่มีความบริสุทธิ์สูงลดเอฟเฟ็กต์ SEU ที่เกิดจากรังสีอนุภาค Alpha นิวตรอนที่ไม่สามารถหลีกเลี่ยงได้ยังคงเป็นสาเหตุหลักสําหรับผลกระทบ SEU ในปัจจุบัน ข้อผิดพลาดซอฟต์จะสุ่มและเกิดขึ้นตามความน่าจะเป็นที่เกี่ยวข้องกับระดับพลังงาน ฟลักซ์ และความไวต่อเซลล์

Intel ได้ทําการศึกษาผลกระทบของ SEUs บนอุปกรณ์สําหรับกระบวนการหลายเจนเนอเรชั่น และได้สร้างประสบการณ์ที่ครอบคลุมทั้งในการลดอัตราความผิดพลาดแบบซอฟต์ผ่านเค้าโครงทางกายภาพที่ปรับให้เหมาะสมกับ SEU และในเทคนิคการลดข้อผิดพลาดซอฟต์โลน Intel เปิดตัวการตรวจสอบความซ้ําซ้อนแบบวัฏจักรอัตโนมัติครั้งแรกในอุตสาหกรรม (CRC) และขจัดข้อกําหนดลอจิกและความซับซ้อนพิเศษที่ใช้กับโซลูชันการตรวจสอบข้อผิดพลาดอื่นๆ ตระกูลอุปกรณ์ Intel® ทั้งหมดได้รับการทดสอบพฤติกรรมและประสิทธิภาพของ SEU โดยใช้สิ่งอํานวยความสะดวก เช่น Los Alamos Weapons Neutron Research (WNR) โดยใช้ขั้นตอนการทดสอบมาตรฐานที่กําหนดโดยข้อมูลจําเพาะ JESD-89 ของ JEDEC

การทดสอบ SEU ของ intel® FPGAs ที่ Los Alamos Neutron Science Center (LANSCE) ได้เปิดเผยผลลัพธ์ต่อไปนี้:

• ไม่พบข้อผิดพลาด SEU ในวงจร CRC แบบแข็งและการลงทะเบียน I/O สําหรับผลิตภัณฑ์ทั้งหมด นอกเหนือจาก Stratix 10
• มีเวลาเฉลี่ยระหว่าง Functional Interrupt (MTBFI) หลายร้อยปี แม้สําหรับ FPGAs ที่มีความหนาแน่นสูงขนาดใหญ่มาก
  

Intel® Stratix® ซีรีส์ Arria® GX ซีรีส์ และ Cyclone®ซีรีส์ตระกูล FPGA มาพร้อมวงจรฮาร์ดในตัวเพื่อตรวจสอบ CRC อย่างต่อเนื่องและโดยอัตโนมัติโดยไม่มีค่าใช้จ่ายเพิ่มเติม สําหรับผลิตภัณฑ์ที่ผลิตจากเทคโนโลยีการประมวลผล 28 nm และโหนดกระบวนการต่อมา Intel ได้ปรับใช้ CRAM upset bit Correction (scrubbing) นอกเหนือจากการตรวจจับและการแก้ไขบิต CRAM ที่ปรับปรุงใหม่ คุณสามารถติดตั้งตัวตรวจสอบ CRC ผ่านซอฟต์แวร์การออกแบบ Intel® Quartus® Prime ได้อย่างง่ายดาย

สําหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเทคนิคการบรรเทาภัยอื่นๆ และสําหรับรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับการทดสอบ SEU ของอุปกรณ์ Intel FPGA โปรดติดต่อตัวแทนจําหน่ายหรือตัวแทนจําหน่าย Intel ในพื้นที่ของคุณ