การอารมณ์เสียในเหตุการณ์เดียว (SEU)
ปัญหาการอารมณ์เสียในเหตุการณ์เดียวนั้นมีผลกระทบที่ไม่พึงประสงค์ในสถานะแลตช์หรือเซลล์หน่วยความจําของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ที่เกิดจากรังสี
การสนับสนุนการอารมณ์เสียในเหตุการณ์เดียว (SEU) ให้แหล่งข้อมูลสําหรับอุปกรณ์ Agilex™ 7, Agilex 5, Agilex™ 3, Stratix® 10, Arria® 10, Cyclone® 10, MAX® 10, Stratix® V, Arria® V, Cyclone® V, Stratix® IV, Cyclone® IV และ Arria® II
รับการสนับสนุนเพิ่มเติมสําหรับ สถาปัตยกรรมระบบ Agilex™ 7, สถาปัตยกรรมระบบ Agilex™ 5 และ สถาปัตยกรรมระบบ Agilex™ 3, การเดินทางตามขั้นตอนสําหรับขั้นตอนการพัฒนามาตรฐานการท่องแหล่งทรัพยากรและเอกสารที่สําคัญ
สําหรับอุปกรณ์อื่นๆ ให้ค้นหาคอลเล็คชั่นการสนับสนุนอุปกรณ์และผลิตภัณฑ์
แนะ นำ
ปัญหาการขัดข้องในเหตุการณ์เดียว (SEU) เกิดจากการโจมตีของรังสีก่อไอออนในองค์ประกอบอุปกรณ์จัดเก็บข้อมูล เช่น เซลล์หน่วยความจําการกําหนดค่า หน่วยความจําผู้ใช้ และรีจิสเตอร์ ในการใช้งานภาคพื้นดินแหล่งรังสีก่อไอออนหลักของความกังวลคืออนุภาคอัลฟ่าที่ปล่อยออกมาจากสิ่งสกปรกในวัสดุนิวตรอนพลังงานสูงที่ผลิตโดยการทํางานร่วมกันของรังสีคอสมิกกับบรรยากาศของโลกและนิวตรอนความร้อนที่ในกรณีส่วนใหญ่เป็นนิวตรอนพลังงานสูง แต่ยังสามารถผลิตในอุปกรณ์ที่แมนสร้างขึ้น การศึกษาดําเนินการในช่วง 20 ปีที่ผ่านมาได้นําไปสู่วัสดุบรรจุภัณฑ์ที่มีความบริสุทธิ์สูงลดผลกระทบ SEU ที่เกิดจากรังสีอนุภาคอัลฟา นิวตรอนบรรยากาศที่น่าทึ่งยังคงเป็นสาเหตุหลักสําหรับผลกระทบ SEU ในปัจจุบัน ข้อผิดพลาดซอฟต์นั้นสุ่มและเกิดขึ้นตามความน่าจะเป็นที่เกี่ยวข้องกับระดับพลังงานฟลักซ์และความไวต่อเซลล์
Altera ได้ศึกษาผลกระทบของ SEU บนอุปกรณ์ของตนสําหรับหลายเจนเนอเรชั่นของกระบวนการ และได้สร้างประสบการณ์มากมายทั้งในการลดอัตราความผิดพลาดแบบซอฟต์ผ่านการจัดวางทางกายภาพและเทคโนโลยีกระบวนการที่ปรับให้เหมาะสม SEU และในเทคนิคการบรรเทาข้อผิดพลาดแบบซอฟต์ Altera เปิดตัวการตรวจสอบความซ้ําซ้อนตามวัฏจักร (CRC) อัตโนมัติเครื่องแรกของอุตสาหกรรม และขจัดข้อกําหนดด้านลอจิกและความซับซ้อนเพิ่มเติมที่ใช้กับโซลูชันการตรวจสอบข้อผิดพลาดอื่นๆ ตระกูลอุปกรณ์ทั้งหมดได้รับการทดสอบสําหรับพฤติกรรม SEU และประสิทธิภาพโดยใช้สิ่งอํานวยความสะดวกต่างๆ เช่น Los Alamos Weapons Neutron Research (WNR) โดยใช้ขั้นตอนการทดสอบมาตรฐานที่กําหนดโดย JESD-89 spec ของ JEDEC
การทดสอบ SEU ของ FPGAs ที่ Los Alamos Neutron Science Center (LANSCE) ได้เปิดเผยผลลัพธ์ต่อไปนี้:
- ไม่พบข้อผิดพลาด SEU ในวงจร CRC แบบฮาร์ดและรีจิสเตอร์ I/O สําหรับผลิตภัณฑ์ทั้งหมด นอกเหนือจาก Stratix 10
- มี Mean Time Between Functional Interrupt (MTBFI) หลายร้อยปี แม้สําหรับ FPGAs ที่มีความหนาแน่นสูงและมีขนาดใหญ่มากก็ตาม
ตระกูล FPGA ซีรีส์ Stratix®, Arria® GX และซีรีส์ Cyclone® มาพร้อมกับวงจรฮาร์ดเฉพาะในตัว เพื่อตรวจสอบ CRC อย่างต่อเนื่องและโดยอัตโนมัติ โดยไม่มีค่าใช้จ่ายเพิ่มเติม สําหรับผลิตภัณฑ์ที่ผลิตด้วยเทคโนโลยีการประมวลผล 28 นาโนเมตรและโหนดกระบวนการที่ตามมา Altera ได้ปรับใช้ CRAM upset bit correction (scrubbing) นอกเหนือจากการตรวจจับและการแก้ไขการขัดข้องของบิต CRAM ที่ได้รับการปรับปรุง คุณสามารถตั้งค่าตัวตรวจสอบ CRC ได้อย่างง่ายดายผ่านซอฟต์แวร์การออกแบบ Quartus® Prime
สําหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับเทคนิคการบรรเทาผลกระทบอื่นๆ และสําหรับรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับการทดสอบอุปกรณ์ FPGA SEU โปรดติดต่อตัวแทนจําหน่ายหรือตัวแทนจําหน่าย Altera ในพื้นที่ของคุณ
เอกสาร
เอกสารที่จัดประเภทตามขั้นตอนวงจรชีวิตผลิตภัณฑ์
เนื้อหาในหน้านี้เป็นการผสมผสานระหว่างการแปลเนื้อหาต้นฉบับภาษาอังกฤษโดยมนุษย์และคอมพิวเตอร์ เนื้อหานี้จัดทำขึ้นเพื่อความสะดวกของคุณและเพื่อเป็นข้อมูลทั่วไปเท่านั้นและไม่ควรอ้างอิงว่าสมบูรณ์หรือถูกต้อง หากมีความขัดแย้งใด ๆ ระหว่างเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้กับคำแปล เวอร์ชันภาษาอังกฤษจะมีผลเหนือกว่าและควบคุม ดูเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้