ID บทความ: 000085406 ประเภทข้อมูล: การแก้ไขปัญหา การตรวจสอบครั้งล่าสุด: 12/08/2014

ส่วนประกอบพินหรือลูปควบคุม VFB สามารถวัดเป็นส่วนหนึ่งของการทดสอบในวงจร (ICT) บนอุปกรณ์ Enpirion Power SoC ได้หรือไม่

สิ่งแวดล้อม

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
คำอธิบาย

ไม่ควรวัดพินและลูปควบคุมอุปกรณ์ Enpirion® Power SoC โดยเป็นส่วนหนึ่งของการทดสอบวงจร (ICT) ในขณะที่อุปกรณ์ถูกขับเคลื่อนและทํางานอยู่ ความจุหรือการเหนี่ยวนําอาจรบกวนลูปควบคุมและทําให้อุปกรณ์ทํางานผิดปกติ ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับ ICT ภายใต้เงื่อนไขนี้ ความเสียหายอาจเกิดขึ้นกับอุปกรณ์

คุณสามารถอนุมานพฤติกรรมของพิน VFB ของอุปกรณ์ผ่านการวัดพิน VOUT และการประยุกต์ใช้สูตรในเอกสารข้อมูลอุปกรณ์ที่เกี่ยวข้อง

คุณสามารถทําการทดสอบ ICT แบบเปิด, สั้น, ความต้านทาน และความจุเมื่อไม่มีการใช้พลังงานกับอุปกรณ์ Enpirion Power SoC

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

บทความนี้จะนำไปใช้กับ 1 ผลิตภัณฑ์

อุปกรณ์ที่ตั้งโปรแกรมได้ Intel®

เนื้อหาในหน้านี้เป็นการผสมผสานระหว่างการแปลเนื้อหาต้นฉบับภาษาอังกฤษโดยมนุษย์และคอมพิวเตอร์ เนื้อหานี้จัดทำขึ้นเพื่อความสะดวกของคุณและเพื่อเป็นข้อมูลทั่วไปเท่านั้นและไม่ควรอ้างอิงว่าสมบูรณ์หรือถูกต้อง หากมีความขัดแย้งใด ๆ ระหว่างเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้กับคำแปล เวอร์ชันภาษาอังกฤษจะมีผลเหนือกว่าและควบคุม ดูเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้