ไม่ควรวัดพินและลูปควบคุมอุปกรณ์ Enpirion® Power SoC โดยเป็นส่วนหนึ่งของการทดสอบวงจร (ICT) ในขณะที่อุปกรณ์ถูกขับเคลื่อนและทํางานอยู่ ความจุหรือการเหนี่ยวนําอาจรบกวนลูปควบคุมและทําให้อุปกรณ์ทํางานผิดปกติ ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับ ICT ภายใต้เงื่อนไขนี้ ความเสียหายอาจเกิดขึ้นกับอุปกรณ์
คุณสามารถอนุมานพฤติกรรมของพิน VFB ของอุปกรณ์ผ่านการวัดพิน VOUT และการประยุกต์ใช้สูตรในเอกสารข้อมูลอุปกรณ์ที่เกี่ยวข้อง
คุณสามารถทําการทดสอบ ICT แบบเปิด, สั้น, ความต้านทาน และความจุเมื่อไม่มีการใช้พลังงานกับอุปกรณ์ Enpirion Power SoC