ID บทความ: 000078625 ประเภทข้อมูล: การแก้ไขปัญหา การตรวจสอบครั้งล่าสุด: 25/03/2013

เป็นไปได้หรือไม่ที่จะทําการทดสอบการสแกนแบบขอบเขตบนพิน Hard Processor System (HPS) JTAG

สิ่งแวดล้อม

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
คำอธิบาย

ไม่ ไม่สามารถทําการทดสอบการสแกนขอบเขตผ่านพิน HPS JTAG ได้ อย่างไรก็ตาม พิน TBE HPS I/O รองรับการทดสอบการสแกนขอบเขตผ่านพิน JTAG ของFPGA ไฟล์ BSDL ที่สร้างขึ้นผ่านซอฟต์แวร์ Quartus® II สําหรับอุปกรณ์ Cyclone® V SoC จะมีพิน HPS I/O ที่รองรับการสแกนแบบจํากัด

หมายเหตุ: หากต้องการFPGAs V SoC Cyclone คุณต้องเพิ่มพลังทั้ง HPS และFPGAเพื่อทําการทดสอบการสแกนขอบเขต (BST)

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

บทความนี้จะนำไปใช้กับ 3 ผลิตภัณฑ์

Cyclone® V SX SoC FPGA
Cyclone® V ST SoC FPGA
Cyclone® V SE SoC FPGA

เนื้อหาในหน้านี้เป็นการผสมผสานระหว่างการแปลเนื้อหาต้นฉบับภาษาอังกฤษโดยมนุษย์และคอมพิวเตอร์ เนื้อหานี้จัดทำขึ้นเพื่อความสะดวกของคุณและเพื่อเป็นข้อมูลทั่วไปเท่านั้นและไม่ควรอ้างอิงว่าสมบูรณ์หรือถูกต้อง หากมีความขัดแย้งใด ๆ ระหว่างเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้กับคำแปล เวอร์ชันภาษาอังกฤษจะมีผลเหนือกว่าและควบคุม ดูเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้