การอารมณ์เสียในเหตุการณ์เดียว (SEU)

ปัญหาการอารมณ์เสียในเหตุการณ์เดียวนั้นมีผลกระทบที่ไม่พึงประสงค์ในสถานะแลตช์หรือเซลล์หน่วยความจําของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ที่เกิดจากรังสี

เนื้อหาในหน้านี้เป็นการผสมผสานระหว่างการแปลเนื้อหาต้นฉบับภาษาอังกฤษโดยมนุษย์และคอมพิวเตอร์ เนื้อหานี้จัดทำขึ้นเพื่อความสะดวกของคุณและเพื่อเป็นข้อมูลทั่วไปเท่านั้นและไม่ควรอ้างอิงว่าสมบูรณ์หรือถูกต้อง หากมีความขัดแย้งใด ๆ ระหว่างเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้กับคำแปล เวอร์ชันภาษาอังกฤษจะมีผลเหนือกว่าและควบคุม ดูเวอร์ชันภาษาอังกฤษของหน้านี้