เปรียบเทียบ ผลิตภัณฑ์ Intel^®

คอลเลกชั่นผลิตภัณฑ์

ความจุ

สถานะ

วันที่วางจำหน่าย

สภาวะการใช้งาน

การอ่านแบบลำดับ (สูงสุด)

การเขียนแบบลำดับ (สูงสุด)

การอ่านแบบสุ่ม (ช่วง 100%)

การเขียนแบบสุ่ม (ช่วง 100%)

พลังงานไฟฟ้า - ทำงาน

พลังงานไฟฟ้า - ไม่ทำงาน

การสั่นสะเทือน - ขณะทำงาน

การสั่นสะเทือน - ขณะไม่ทำงาน

การกระแทก (ขณะทำงานและขณะไม่ทำงาน)

ช่วงอุณหภูมิการทำงาน

อุณหภูมิการทํางานสูงสุด

อุณหภูมิการทํางานขั้นต่ํา

ระดับความทนทาน (การเขียนตลอดอายุการใช้งาน)

เวลาเฉลี่ยระหว่างความล้มเหลว (MTBF)

อัตราความผิดพลาดบิตซึ่งไม่สามารถแก้ไขได้ (UBER)

ระยะเวลารับประกัน

Form Factor

อินเตอร์เฟซ

การปกป้องข้อมูลเมื่อไฟตกที่ได้รับการปรับปรุง

High Endurance Technology (HET)

การตรวจสอบและการบันทึกอุณหภูมิ

การปกป้องข้อมูลแบบครบวงจร (End-to-End)