654014
2011-02-02
Public
ไม่มีตัวอย่างสำหรับรายการบันทึกนี้ โปรดดำเนินการด้วยการเลือกตัวเลือกที่มีอยู่ "ดาวน์โหลด" หรือ "ดู" เพื่อดำเนินการกับสื่อ
คำอธิบาย
อธิบายการตรวจสอบ Cyclical Redundancy Check (CRC) และการบรรเทา SEU ในอุปกรณ์ Stratix® IV
คำแนะนำการใช้งาน
สินทรัพย์ที่เกี่ยวข้อง
ชื่อและคำอธิบาย
Format
ภาษา
ดำเนินการ
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 12: JTAG Boundary-Scan Testing
Describes IEEE 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Testing in Stratix® IV Devices
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1: Device Core, I/O Interfaces, and System Integration
This section provides a description of transceiver architecture and transceiver clocking for the Stratix® IV device family. It also describes configuring for multiple protocols and data rates, reset control and power down, and dynamic configuration for Stratix IV devices.
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 10: Configuration, Design Security, and Remote System Upgrades
Which configuration schemes are supported and how to execute required configuration schemes.
Stratix® IV Device Handbook, Volume 1, Chapter 9: Hot Socketing and Power-On Reset
Describes hot socketing and power-on reset in Stratix® IV Devices